[发明专利]半导体后工序用卡盘板、具有所述卡盘板的卡盘结构物及具有卡盘结构物的芯片分离装置在审

专利信息
申请号: 201780042981.8 申请日: 2017-07-04
公开(公告)号: CN109417047A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 全泳坤;南成龙;金敏基;郑仁荣 申请(专利权)人: 美科股份有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/02;H01L21/67;H01L21/68
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 孙昌浩;李盛泉
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 半导体后工序用卡盘结构物可以包括:加热盘,其内置借助于从外部接入的电源而产生热的发热体,为了提供真空力而具有延长至上部面的第一真空管线;及卡盘板,其放于所述加热盘上,在上面支撑切割成多个芯片并附着于胶带的晶片,将所述加热盘产生的热传递给所述晶片,以便所述芯片从所述胶带分离,为了以所述真空力吸附所述胶带而具有与所述第一真空管线连接的第二真空管线。因此,可以将所述芯片无损伤地从所述胶带分离。
搜索关键词: 胶带 真空管线 加热盘 卡盘板 卡盘结构 芯片 真空力 晶片 半导体 芯片分离装置 发热体 结构物 热传递 无损伤 附着 吸附 切割 电源 外部 支撑
【主权项】:
1.一种半导体后工序用卡盘板,其中,放于加热盘上,在上部面支撑切割成多个芯片并附着于胶带的晶片,将所述加热盘产生的热传递给所述晶片,以便所述芯片从所述胶带分离,为了以真空力吸附所述胶带,具有上下贯通的多个真空孔。
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