[发明专利]干涉散射显微镜有效
| 申请号： | 201780043114.6 | 申请日： | 2017-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN109477955B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 菲利普·库库拉;亚历山大·魏格尔 | 申请（专利权）人： | 牛津大学科技创新有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;G02B21/08;G02B21/14;G02B21/36;G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 江海;姚开丽 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过对输出光进行空间滤波来改造干涉散射显微镜，所述输出光包括在检测输出光之前从样品位置散射的光和从样品位置反射的照明光两者。空间滤波使反射的照明光通过，但是使强度减小，反射的照明光的强度的减小在预定数值孔径内比在更大的数值孔径处大。这增强了相干照明的成像对比度，特别是对于作为弱散射体的对象而言。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 散射 显微镜 | ||
【主权项】：
1.一种干涉散射显微镜，包括：样品架，用于将样品保持在样品位置；照明光源，被布置成提供照明光；检测器；光学系统，被布置成将照明光引导到所述样品位置上并且被布置成收集反射的输出光，所述输出光包括从所述样品位置散射的光和从所述样品位置反射的照明光两者，并且所述光学系统被布置成将所述输出光引导到所述检测器；以及空间滤波器，被定位成对所述输出光进行滤波，所述空间滤波器被布置成使输出光通过，但是使强度减小，所述输出光的强度的减小在预定数值孔径内比在更大的数值孔径处大。
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