[发明专利]增材制造工艺中原位与实时质量控制的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201780044580.6 申请日: 2017-06-09
公开(公告)号: CN109477737B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: K·瓦斯默;S·舍夫奇克;F·瓦基利法拉哈尼;G·维奥拉基斯;S·沃谢 申请(专利权)人: 联邦材料测试与开发研究所
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353;B22F3/105;B33Y30/00;G01N29/12
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 石海霞;金鹏
地址: 瑞士杜*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 具有至少一个光纤传感器(50)的传感器读出系统的使用方法,所述至少一个光纤传感器(50)通过至少一个信号线(51)连接到处理单元(52),传感器读出系统(5)作为增材制造装置的一部分,用于正进行的离子和电子束、微波或激光增材制造工艺的原位和实时质量控制,其中,通过具有布拉格光栅、光纤干涉仪或法布里‑珀罗结构(500)的光纤形式的至少一个光纤传感器(50)测量声发射,接着是信号传输(51)以及处理单元(52)中的测量的信号的分析、由于烧结或熔化质量与测量的声发射信号之间的相关性进行的烧结或熔化工艺质量的评估,随后是通过反馈回路(53)实时进行的增材制造装置的离子和电子束、微波或激光电子装置(1)的离子和电子束、微波或激光烧结或熔化参数的适应,作为在处理单元(52)中用算法框架解译之后的测量的声发射信号的结果。
搜索关键词: 制造 工艺 原位 实时 质量 控制 方法 装置
【主权项】:
1.具有至少一个光纤传感器(50)的传感器读出系统(5)的使用,所述至少一个光纤传感器(50)通过至少一个信号线(51)连接到处理单元(52),传感器读出系统(5)作为增材制造装置的一部分,用于正进行的离子和电子束、微波或激光增材制造工艺的原位和实时质量控制,其中,通过具有布拉格光栅、光纤干涉仪或法布里‑珀罗结构(500)的光纤形式的至少一个光纤传感器(50)测量声发射,接着是信号传输(51)以及处理单元(52)中的测量的信号的分析、由于烧结或熔化质量与测量的声发射信号之间的相关性进行的增材制造工艺质量的评估,随后是通过反馈回路(53)实时进行的增材制造装置的离子和电子束、微波或激光电子装置(1)的增材制造参数的适应,作为在处理单元(52)中用算法框架解译之后的测量的声发射信号的结果,其中,所述至少一个光纤传感器(50)在离子和电子束、微波或激光源(2)与离子和电子束、微波或激光照射聚焦光斑(30)之间、在工艺轴(L)旁边与样本和源(2)分开布置,并且所述至少一个光纤传感器(50)的光纤轴(f)相对于工艺轴(L)分别以0°至90°范围内的角度(θ)倾斜。
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