[发明专利]三维表面粗糙度评价装置、三维表面粗糙度评价方法、三维表面粗糙度数据获取装置和三维表面粗糙度数据获取方法在审
| 申请号： | 201780045996.X | 申请日： | 2017-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN109477712A | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 三重野紘央 | 申请（专利权）人： | 中国涂料株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳;刘芃茜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种三维表面粗糙度评价装置，其包括：二维激光位移计；使二维激光位移计在X轴方向移动的移动机构；移动距离读取装置，其用于读取二维激光位移计的X轴方向的移动距离；和运算装置，其根据由二维激光位移计获取的位移数据和由移动距离读取装置获取的移动距离数据，生成检测对象的三维表面粗糙度数据，二维激光位移计以如下方式配置：使该二维激光位移计的宽度方向与Y轴方向一致，使得能够按一定间隔读取Y轴方向的坐标的位移数据，二维激光位移计的测量范围为检测对象的元素的平均长度RSm的至少2倍以上，运算装置构成为：将由二维激光位移计按X轴方向的一定间隔获取的位移数据在Y轴方向求取平均以生成各坐标的基准面数据，从各X‑Y平面坐标的位移数据减去各坐标的基准面数据来生成检测对象的三维表面粗糙度数据。 | ||
| 搜索关键词： | 二维激光 三维表面粗糙度 位移计 位移数据 检测对象 读取 读取装置 评价装置 基准面 数据获取装置 移动距离数据 方式配置 方向一致 平面坐标 数据获取 移动机构 运算装置 和运算 减去 测量 | ||
【主权项】：
1.一种三维表面粗糙度评价装置，其特征在于，包括：二维激光位移计；使所述二维激光位移计在X轴方向移动的移动机构；移动距离读取装置，其用于读取所述二维激光位移计的X轴方向的移动距离；和运算装置，其根据由所述二维激光位移计获取的位移数据和由所述移动距离读取装置获取的移动距离数据，生成检测对象的三维表面粗糙度数据，所述二维激光位移计以如下方式配置：使该二维激光位移计的宽度方向与Y轴方向一致，使得能够按一定间隔读取Y轴方向的坐标的位移数据，所述二维激光位移计的测量范围为检测对象的元素的平均长度RSm的至少2倍以上，所述运算装置构成为：将由所述二维激光位移计按X轴方向的一定间隔获取的位移数据在Y轴方向求取平均，来生成各坐标的基准面数据，从各X‑Y平面坐标的所述位移数据减去所述各坐标的基准面数据，以生成所述检测对象的三维表面粗糙度数据。
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