[发明专利]用于操作MRI系统的梯度线圈设备的方法和控制单元有效
| 申请号： | 201780046240.7 | 申请日： | 2017-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN109564267B | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | M·K·特默 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/385 | 分类号： | G01R33/385 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于操作磁共振成像系统(14)的梯度线圈设备(30)的方法，所述方法包括以下步骤：提供所述设备(30)的至少一个第一参数和/或所述设备(30)的至少一个第二参数；通过使用数学模型(66)来执行所述设备(30)的操作的破坏计算，所述模型(66)基于应力循环曲线或修改的应力循环曲线，并且使用所述至少一个第一参数(68)和/或所述至少一个第二参数(70、72)；并且确定针对所述设备(30)的另外的操作的第二参数。本发明还涉及用于操作磁共振成像系统(14)的梯度线圈设备的对应的控制单元(56)、包括梯度线圈设备(30)和控制单元(56)的对应的磁共振成像系统(14)、以及用于在计算机系统上执行用于操作所述梯度线圈设备(30)的方法的计算机程序产品。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 操作 mri 系统 梯度 线圈 设备 方法 控制 单元 | ||
【主权项】：
1.一种用于操作磁共振成像系统(14)的梯度线圈设备(30)或磁共振成像系统的经受重复性机械应力的另一部件的方法，所述方法包括以下步骤：‑提供所述设备(68)的至少一个第一参数和/或所述设备(70、72)的至少一个第二参数；‑通过使用数学模型(66)来执行所述设备(30)的操作的破坏计算，所述模型(66)基于应力循环曲线或修改的应力循环曲线，并且使用所述至少一个第一参数(68)和/或所述至少一个第二参数(70、72)；并且‑确定针对所述设备(30)的另外的操作的第二参数。
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