[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器在审
| 申请号： | 201780047340.1 | 申请日： | 2017-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN109564286A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | W·赫尔梅斯;C·朗根施密德;S·瓦鲁施;R·森德;I·布鲁德 | 申请（专利权）人： | 特里纳米克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 贺月娇;杨晓光 |
| 地址： | 德国莱茵河*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 公开了用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)，其中检测器(110)包括：至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中的光束(132)的束横截面(158)，其中传感器区域(130)是或包括至少一个温差电单元(134)，其中温差电单元(134)被设计为在光束(132)照射传感器区域(130)或其一部分时，由于温差电单元(134)中的温度的空间变化或时间变化中的至少一者生成纵向传感器信号；以及至少一个评估装置(142)，其中评估装置(142)被设计为通过评估纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。从而，提供了通过使用从紫外到远红外光谱范围的宽光谱范围，特别是中红外光谱范围内的光束(132)准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单但有效的检测器(110)。 | ||
| 搜索关键词： | 检测器 传感器区域 纵向传感器 光学传感器 温差电 光学检测 评估装置 照射 远红外光谱 照射传感器 中红外光谱 空间变化 纵向位置 宽光谱 信息项 总功率 评估 | ||
【主权项】：
1.一种用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)，包括：至少一个纵向光学传感器(114)，其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中所述纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对所述传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，所述纵向传感器信号取决于所述传感器区域(130)中的所述光束(132)的束横截面(158)，其中所述传感器区域(130)是或包括至少一个温差电单元(134)，其中所述温差电单元(134)被设计为在所述光束(132)照射所述传感器区域(130)或其一部分时，由于所述温差电单元(134)中的温度的空间变化或时间变化中的至少一者而生成所述纵向传感器信号；以及至少一个评估装置(142)，其中所述评估装置(142)被设计为通过评估所述纵向传感器信号来生成关于所述对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。
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