[发明专利]光学特性的测试装置和光学特性的测试方法有效
| 申请号： | 201780048799.3 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN109564133B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 曹敏荣;朴振勇;朴东敏;李元喆;郑基濬 | 申请（专利权）人： | 株式会社LG化学 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00;G02B5/30 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 顾晋伟;梁笑 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及光学特性的测试装置和光学特性的测试方法，并且本申请的光学特性的测试装置具有便宜的装置制造和维护成本，能够通过所述光学特性的测试装置测试宽范围的平面方向相位差，并且可以提供具有改善的相位延迟轴识别效率的光学特性的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种四分之一波长膜的光学特性的测试装置，所述测试装置依次包括发射非偏振光的光源、下起偏振器、第一四分之一波长膜、第二四分之一波长膜、上起偏振器和颜色检测部。
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