[发明专利]X射线检查装置在审

专利信息
申请号: 201780049923.8 申请日: 2017-08-03
公开(公告)号: CN109564175A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 杉本一幸;栖原一浩 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/18
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 玉昌峰;李罡
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: X射线检查装置具备:X射线照射部,其对物品照射X射线;X射线检测部,其检测透射了物品的X射线;检查部,其基于X射线检测部输出的信号生成物品的X射线透射图像,并基于X射线透射图像进行物品的检查;以及控制部,其控制X射线照射部以及X射线检测部。控制部在控制X射线照射部以使得X射线照射部的照射输出为第一照射输出的情况下,当X射线检测部的检测输出减少时,执行控制X射线照射部的第一控制以使照射输出增大。
搜索关键词: 控制X射线 输出 照射部 照射 透射图像 物品照射 信号生成 检测 透射 检查
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,具备:X射线照射部,对物品照射X射线;X射线检测部,检测透射所述物品的所述X射线;检查部,基于从所述X射线检测部输出的信号来生成所述物品的X射线透射图像,并基于所述X射线透射图像来进行所述物品的检查;以及控制部,控制所述X射线照射部以及所述X射线检测部,所述控制部在控制所述X射线照射部以使得所述X射线照射部的照射输出为第一照射输出的情况下,当所述X射线检测部的检测输出减少时,执行控制所述X射线照射部的第一控制以使所述照射输出增大。
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