[发明专利]具有故障检测的纠错硬件有效

专利信息
申请号: 201780051527.9 申请日: 2017-08-22
公开(公告)号: CN109643262B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: S·贾兰;I·珀若撒盼;A·G·卡基斯瓦尔 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: G06F11/16 分类号: G06F11/16;G11C29/42;B60W30/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 徐东升;赵蓉民
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在所描述的示例中,纠错码(ECC)硬件包括写入生成(Gen)ECC逻辑(115b)和耦合到存储器电路(130)的ECC输出的检查ECC块(120b),检查ECC块(120b)具有耦合到XOR电路(120b2)的读取Gen ECC逻辑(120b1),XOR电路(120b2)将校正子信号输出到校正子解码块(120c),校正子解码块(120c)耦合到单个位纠错块(120d)。第一MUX(115a)接收写入数据并与写入Gen ECC逻辑(115b)的输入串联,或者第二MUX(120e)从存储器电路(130)接收读取数据并与读取Gen ECC逻辑(120b1)的输入串联。交叉耦合连接器(150、150’)将来自存储器电路(130)的读取数据耦合到第一MUX(115a)的第二输入,或者将写入数据耦合到第二MUX(120e)的第二输入。ECC位比较器(135)将写入Gen ECC逻辑(115b)的输出与读取Gen ECC逻辑输出(120b1)进行比较。
搜索关键词: 具有 故障 检测 纠错 硬件
【主权项】:
1.一种用于单端口存储器电路的纠错码硬件即ECC硬件,包括:写入路径电路,其包括写入生成ECC逻辑即写入Gen ECC逻辑,所述写入Gen ECC逻辑用于从写入数据生成第一ECC位并且用于将所述第一ECC位和所述写入数据写入所述存储器电路;读取路径电路,其包括检查ECC块,所述检查ECC块用于耦合来自所述存储器电路的读取数据,所述检查ECC块包括耦合到XOR电路的读取Gen ECC逻辑,所述读取Gen ECC逻辑具有用于耦合到所述存储器电路的ECC输出的输入,其中所述XOR电路的输出将校正子信号提供到校正子解码块,所述校正子解码块耦合到单个位纠错块即SEC块并且用于生成多位错误检测中断信号即MED中断信号;第一多路复用器即第一MUX或第二MUX,所述第一MUX具有用于接收所述写入数据的第一输入并与所述写入ECC生成逻辑的输入串联,所述第二MUX具有用于从所述存储器电路接收所述读取数据的第一输入并与所述读取Gen ECC逻辑的输入串联;交叉耦合连接器,其用于将来自所述存储器电路的所述读取数据耦合到所述第一MUX的第二输入,或者交叉耦合连接器,其用于将所述写入数据耦合到所述第二MUX的第二输入,以及ECC位比较器,其用于将所述写入Gen ECC逻辑的输出与所述读取Gen ECC逻辑的输出进行比较。
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