[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201780052093.4 申请日: 2017-08-04
公开(公告)号: CN109642910B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 海老原大介;今井健太;山下善宽;松原茂树;坂诘卓 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 殷明;俞丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在自动分析装置中,为了实现更高灵敏度化,防止尘埃等混入到试料和试剂的反应部是重要的。本发明提出一种具备对反应部等装置内的特定区域、或者装置内进行正压化的结构的自动分析装置。通过进行正压化并形成从反应部或装置内流出的气流,从而将侵入反应部的尘埃抑制在一定量以下。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,包括:第一区域,该第一区域具有可部分开闭的门,在该门打开的状态下能够从装置外部提供用于分析的消耗品或者试料;反应区域,该反应区域与所述第一区域相邻地进行配置且执行使用了所述试料的反应;第一开闭单元,该第一开闭单元可开闭地对所述第一区域与所述反应区域进行划分;第一供气单元或排气单元,该第一供气单元或排气单元将所述反应区域的压力设为比所述第一区域的压力要高;以及控制单元,该控制单元基于所述第一开闭单元的开闭状态来对所述供气单元或排气单元的驱动进行控制。
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