[发明专利]异物检测装置及线性引导件有效

专利信息
申请号: 201780053818.1 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN109661521B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 森行良直 申请(专利权)人: THK株式会社
主分类号: F16C29/06 分类号: F16C29/06;F16C19/52;F16C41/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘文海
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的在于,尽可能少量且高精度地对包含磁性体材料的异物进行检测。在本发明的异物检测装置中,第一轭部和第二轭部分别与永磁铁相邻,两个轭部以在其之间夹着基准空间的方式配置。此外,配置有迂回轭部,该迂回轭部隔着与基准空间不同的第一迂回空间而与第一轭部分离地配置,且隔着第二迂回空间而与第二轭部的第二轭规定部位分离地配置,该第一迂回空间的磁阻小于该规定的基准空间的磁阻,并且,该第二迂回空间与该第一迂回空间的磁阻大于该规定的基准空间的磁阻。在此基础上,基于与以贮存在第二迂回空间内的方式设置的贮存部中的异物的贮存量相应的、基准空间及第一迂回空间中的至少任一方空间内的磁通密度,来输出与该异物相关的检测信号。
搜索关键词: 异物 检测 装置 线性 引导
【主权项】:
1.一种异物检测装置,其对包含磁性体材料的规定的异物进行检测,其中,所述异物检测装置具备:永磁铁;第一轭部,其与所述永磁铁相邻地配置;第二轭部,其在与所述第一轭部不同的部位处与所述永磁铁相邻,且在与该相邻的部位不同的第二轭规定部位处,隔着规定的基准空间而与所述第一轭部分离地配置;迂回轭部,其隔着与所述规定的基准空间不同的第一迂回空间而与所述第一轭部分离地配置,并且,隔着第二迂回空间而与所述第二轭部的所述第二轭规定部位分离地配置,该第一迂回空间的磁阻小于该规定的基准空间的磁阻,并且,该第二迂回空间与该第一迂回空间的磁阻大于该规定的基准空间的磁阻;贮存部,其设置为,所述规定的异物能够经由在装置主体的外表面上设置的开口部分而进入该贮存部,并且,进入的该规定的异物贮存在所述第二迂回空间内;以及检测部,其基于与所述贮存部中的所述规定的异物的贮存量相应的、所述规定的基准空间及所述第一迂回空间中的至少任一方空间内的磁通密度,来输出与该规定的异物相关的检测信号。
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