[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201780054066.0 申请日: 2017-08-28
公开(公告)号: CN109643713A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 山本薰 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;G11C17/06;H01L29/786;H01L45/00;H01L49/00
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;张艳凤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体装置是具有多个存储单元(MC1、MC2)的半导体装置,多个存储单元(MC1、MC2)各自具有:存储晶体管(10M),其具有氧化物半导体层(17M)作为活性层;以及第1选择晶体管(10S),其具有结晶质硅层(13S)作为活性层,以串联的方式连接到存储晶体管(10M)。
搜索关键词: 半导体装置 存储晶体管 存储单元 活性层 氧化物半导体层 选择晶体管 结晶质 硅层 串联
【主权项】:
1.一种半导体装置,具有多个存储单元,其特征在于,上述多个存储单元各自具有:存储晶体管,其具有氧化物半导体层作为活性层;以及第1选择晶体管,其具有结晶质硅层作为活性层,以串联的方式连接到上述存储晶体管。
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