[发明专利]衰减全反射光谱仪有效
| 申请号： | 201780057469.0 | 申请日： | 2017-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN109716105B | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 班杰明·威森特 | 申请（专利权）人： | 史派克托里提克有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京寰华知识产权代理有限公司 11408 | 代理人： | 林柳岑;贺亮 |
| 地址： | 德国韦恩贝*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具有ATR‑晶体(1)的ATR‑光谱仪，其包括是截短锥形形状的区段(3)和相对于彼此平行布置的两个平面表面；发射器(11)，其被设计成经由所述表面中的一个表面并且基本上垂直于所述表面中的所述一个表面将电磁辐射(13)发射到所述截短锥形形状的所述区段(3)的侧表面(16)，所述侧表面(16)被设计成将所述电磁辐射(13)反射到所述一个表面，使得所述电磁辐射(13)可以通过所述两个表面上的多次反射在所述ATR‑晶体(1)中传播并且随后可以通过在所述截短锥形形状的所述区段(3)的所述侧表面(16)上的反射耦合出所述ATR‑晶体(1)；以及检测器(12)，其被设计成检测耦合出所述ATR‑晶体的所述电磁辐射(13)。 | ||
| 搜索关键词： | 衰减 全反射 光谱仪 | ||
【主权项】：
1.一种衰减全反射光谱仪，其具有：衰减全反射晶体(1)，其包括截短锥形区段(3)和相对于彼此平行布置的两个平面表面；发射器(11)，其被适配成经由所述表面中的一个表面并且基本上垂直于所述表面中的所述一个表面将电磁辐射(13)发射到所述截短锥形区段(3)的侧表面(16)，其中所述侧表面(16)被适配成将所述电磁辐射(13)反射到所述表面中的所述一个表面，使得所述电磁辐射(13)能够通过所述两个表面上的多次反射在所述衰减全反射晶体(1)中传播并且随后能够通过在所述截短锥形区段(3)的所述侧表面(16)上的反射耦合出所述衰减全反射晶体(1)；以及检测器(12)，其被适配成检测耦合出的所述电磁辐射(13)，其中所述表面中的所述一个表面包括用于耦合在所述电磁辐射(13)中的入耦合区域(6)，其中所述入耦合区域(6)是所述侧表面(16)的沿圆周方向上延伸区段到所述表面中的所述一个表面的投影，其中所述发射器(11)具有电磁辐射(13)发射表面，从所述表面中的所述一个表面的中心点(26)看去，所述电磁辐射发射表面在所述入耦合区域(6)上的投影超过至少1.5°的角(α)。
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