[发明专利]n型SiC单晶基板及其制造方法以及SiC外延晶片有效
申请号: | 201780057496.8 | 申请日: | 2017-09-25 |
公开(公告)号: | CN109715867B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 江藤数马;周防裕政;加藤智久 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36;C30B23/06;H01L21/203 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张轶楠;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本公开提供一种n型SiC单晶基板,该n型SiC单晶基板是将施主和受主共同掺杂进去的基板,基板的外周部的施主浓度与受主浓度之差小于中央部的施主浓度与受主浓度之差,并且外周部的施主浓度与受主浓度之差小于3.0×10 |
||
搜索关键词: | sic 单晶基板 及其 制造 方法 以及 外延 晶片 | ||
【主权项】:
1.一种n型SiC单晶基板,是施主和受主一起被掺杂进去了的基板,基板的外周部的施主浓度与受主浓度之差小于中央部的施主浓度与受主浓度之差,并且所述外周部的施主浓度与受主浓度之差小于3.0×1019/cm3。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昭和电工株式会社,未经昭和电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780057496.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:湿式处理系统及其操作方法
- 下一篇:SiC单晶生长用坩埚