[发明专利]用于无接触地测定二维温度信息的方法以及红外测量系统在审

专利信息
申请号: 201780058537.5 申请日: 2017-09-04
公开(公告)号: CN109716080A 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: M.弗兰克;D.马夸特;A.伦贝格;M.尤利希;P.迈尔;T.巴布基纳 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02;G01J5/08;G01J5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 卢江;申屠伟进
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 提出一种用于借助红外测量系统(10)无接触地测定场景(14)的二维温度信息(12)、尤其用于无接触地测定场景(14)的热像(12a)的方法,所述方法具有至少如下方法步骤:•借助所述红外测量系统(10)的红外探测器阵列(44)测量红外辐射,所述红外探测器阵列由多个对红外辐射敏感的像素(52)构成,•从所测量的红外辐射中测定二维温度信息(12)、尤其热像(12a),•借助所述红外测量系统(10)的距离确定设备(34)测定所述红外测量系统(10)与所述场景(14)之间的距离信息(36)。根据本发明,在使用所述距离信息(36)的情况下在几何变量方面评估所述二维温度信息(12)、尤其热像(12a)。此外提出一种相应的红外测量系统(10)。
搜索关键词: 红外测量系统 温度信息 二维 红外辐射 无接触 红外探测器阵列 距离信息 场景 测量 距离确定设备 几何变量 像素 敏感 评估
【主权项】:
1.一种用于借助红外测量系统(10)无接触地测定场景(14)的二维温度信息(12)、尤其用于无接触地测定场景(14)的热像(12a)的方法,所述方法具有至少如下方法步骤:•借助所述红外测量系统(10)的红外探测器阵列(44)测量红外辐射,所述红外探测器阵列由多个对红外辐射敏感的像素(52)构成,•从所测量的红外辐射中测定二维温度信息(12)、尤其热像(12a),•借助所述红外测量系统(10)的距离确定设备(34)测定所述红外测量系统(10)与所述场景(14)之间的距离信息(36),其特征在于,在使用所述距离信息(36)的情况下在几何变量方面评估所述二维温度信息(12)、尤其所述热像(12a)。
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