[发明专利]对磁共振指纹期间的B0偏共振场的直接测量有效
| 申请号： | 201780061976.1 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN109791186B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | J·J·迈内克;T·E·阿姆托尔;P·柯肯;K·佐默 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/24 | 分类号： | G01R33/24;G01R33/56;G01R33/50;G01R33/44 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种磁共振成像系统(100)。机器可执行指令使控制所述MRI系统的处理器利用脉冲序列命令控制(200)所述磁共振成像系统来采集磁共振数据。所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统根据磁共振指纹协议来采集所述磁共振数据。所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在多个脉冲重复(302)期间采集所述磁共振数据。所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在所述多个脉冲重复中的每个期间使用梯度磁场生成系统(110、112)引起梯度诱导的自旋重定相至少两次。所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在所述多个脉冲重复中的每个期间采集至少两个磁共振信号。所述至少两个磁共振信号中的每个在所述梯度诱导的自旋重定相中的单独一个期间被测量。所述磁共振数据包括在所述多个脉冲重复中的每个期间采集的所述至少两个磁共振信号。对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器使用所述磁共振数据来计算(202)B0偏共振图(158)，其中，所述B0偏共振图描述当所述对象在所述成像区内时所述磁共振成像系统的B0偏共振磁场，其中，所述B0偏共振图至少部分地使用在单个脉冲重复期间测量的至少两个磁共振信号来计算。对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器通过将所述磁共振数据与磁共振指纹词典(152)进行比较来生成(204)至少一个磁共振参数图。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 指纹 期间 b0 共振 直接 测量 | ||
【主权项】：
1.一种用于从成像区(108)内的对象(118)采集磁共振数据(146)的磁共振成像系统(100)，其中，所述磁共振成像系统包括：‑梯度磁场生成系统(110、112)，其被配置用于在所述成像区内生成梯度磁场；‑射频系统(114、116)，其被配置用于采集所述磁共振数据；‑存储器(134)，其用于存储机器可执行指令(140)和脉冲序列命令(142)，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统根据磁共振指纹协议来采集所述磁共振数据，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在多个脉冲重复(302)期间采集所述磁共振数据，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在所述多个脉冲重复中的每个期间使用所述梯度磁场生成系统引起梯度诱导的自旋重定相至少两次，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在所述多个脉冲重复中的每个期间采集至少两个磁共振信号，其中，所述至少两个磁共振信号中的每个在所述梯度诱导的自旋重定相中的单独一个期间被测量；其中，所述磁共振数据包括在所述多个脉冲重复中的每个期间采集的所述至少两个磁共振信号；‑处理器(130)，其用于控制所述磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行使所述处理器：‑利用所述脉冲序列命令控制(200)所述磁共振成像系统来采集所述磁共振数据；并且‑使用所述磁共振数据来计算(202)B0偏共振图(158)，其中，所述B0偏共振图描述当所述对象在所述成像区内时所述磁共振成像系统的B0偏共振磁场，其中，所述B0偏共振图至少部分地使用在单个脉冲重复期间测量的至少两个磁共振信号来计算；‑通过将所述磁共振数据与磁共振指纹词典(152)进行比较来生成(204)至少一个磁共振参数图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司，未经皇家飞利浦有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780061976.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
