[发明专利]利用基质辅助激光解吸/离子化飞行时间质谱仪进行时间对强度分布分析有效
| 申请号： | 201780062773.4 | 申请日： | 2017-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110167659B | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 赵英俊;赵邀韩 | 申请（专利权）人： | 高地创新公司 |
| 主分类号： | G16H50/20 | 分类号： | G16H50/20;G01N27/626;G01N33/48 |
| 代理公司： | 北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙) 11641 | 代理人： | 朴英淑 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种设备、方法或计算机程序。可以接收样本的光谱仪测试数据以进行处理。该光谱仪测试数据可以包括以穿过飞行管的离子化粒子的时间和强度为单位的飞行时间数据。可将光谱仪测试数据与参考库匹配，以确定样本的特征信息。参考库可包含以光谱仪检测过去检测到的预存参考样本的离子化粒子的时间和强度为单位的光谱仪样本数据。光谱仪参考数据具有匹配与接收到的光谱仪测试数据关联的已知特征。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 基质 辅助 激光 解吸 离子化 飞行 时间 质谱仪 进行 强度 分布 分析 | ||
【主权项】：
1.一种方法，包括：接收样本的光谱仪测试数据，其包括以穿过飞行管的离子化粒子的飞行时间和强度为单位的飞行时间数据；将所述光谱仪测试数据与参考库匹配，以确定所述样本的特征信息，其中所述参考库包括以至少一个光谱仪检测到的预存参考样本的离子化粒子的飞行时间和强度为单位的光谱仪样本数据，并且其中所述光谱仪参考数据具有所述匹配与接收到的光谱仪测试数据关联的已知特征。
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