[发明专利]深宽比依赖性降低的选择性蚀刻的方法在审
申请号: | 201780062967.4 | 申请日: | 2017-09-27 |
公开(公告)号: | CN109804460A | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 阿达什·巴萨瓦林加帕;王彭;巴斯卡·纳加布海拉瓦;迈克尔·葛斯;普拉帕格拉·卡帕拉达苏;伦道夫·科纳尔;斯蒂芬·施米茨;菲尔·弗里德尔 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01L21/3065;H01J37/32 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠;张华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种相对于掩模选择性蚀刻蚀刻层的方法。提供包括多个蚀刻循环的蚀刻工艺,其中每个蚀刻循环包括:提供沉积阶段和蚀刻阶段。所述沉积阶段包括:提供沉积阶段气体流,所述沉积阶段气体包含具有碳氟化合物或氢氟烃与氧的比率的含碳氟化合物或氢氟烃的气体和含氧气体;提供RF功率,其使所述沉积阶段气体形成等离子体;以及停止所述沉积阶段。所述蚀刻阶段包括:提供蚀刻阶段气体流,所述蚀刻阶段气体包含具有比所述沉积阶段气体的所述碳氟化合物或氢氟烃与氧的比率低的碳氟化合物或氢氟烃与氧的比率的含碳氟化合物或氢氟烃的气体和含氧气体;提供RF功率;以及停止所述蚀刻阶段。 | ||
搜索关键词: | 沉积阶段 蚀刻 氢氟烃 碳氟化合物 含碳氟化合物 选择性蚀刻 含氧气体 阶段气体 蚀刻循环 等离子体 气体形成 蚀刻工艺 气体流 深宽比 蚀刻层 掩模 | ||
【主权项】:
1.一种相对于掩模选择性蚀刻具有隔离区域和密集区域的蚀刻层的方法,其包括:将所述蚀刻层放置在处理室中;提供包括多个蚀刻循环的蚀刻工艺,其中每个蚀刻循环包括:提供沉积阶段,其包括:提供沉积阶段气体流到所述处理室内,所述沉积阶段气体包含具有碳氟化合物或氢氟烃与氧的比率的含碳氟化合物或氢氟烃的气体和含氧气体;提供RF功率,其使所述沉积阶段气体形成等离子体;以及停止所述沉积阶段;并且提供蚀刻阶段,其包括:提供蚀刻阶段气体流到所述处理室中,所述蚀刻阶段气体包含具有比所述沉积阶段气体的所述碳氟化合物或氢氟烃与氧的比率低的碳氟化合物或氢氟烃与氧的比率的含碳氟化合物或氢氟烃的气体和含氧气体;提供RF功率,其使所述蚀刻阶段气体形成等离子体;以及停止所述蚀刻阶段。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造