[发明专利]集成型光模块的光轴调整方法、制造方法以及光轴调整装置有效

专利信息
申请号: 201780065733.5 申请日: 2017-11-10
公开(公告)号: CN109891287B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 神山大知;小寺秀和;佐藤义也;畑端佳;下野真也 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G02B6/293 分类号: G02B6/293;G02B6/42
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 刘杨
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 集成型光模块的光轴调整方法包括:使导入到封装内的入射光的波长变化,通过第1及第2受光元件分别检测由第1及第2滤波器分波的光来测定输出电流的测定工序;根据相对于入射光的波长变化的输出电流的变化来检测第1及第2光的中心波长的检测工序;将第1及第2光的中心波长和第1及第2滤波器的设计透过波长进行比较,将各自的差值设为第1及第2波长偏移的工序;以及调整光分波器的位置以使第1及第2波长偏移的总和变小的调整工序。
搜索关键词: 集成 模块 光轴 调整 方法 制造 以及 装置
【主权项】:
1.一种光轴调整方法,是在封装内具备光分波器和至少第1受光元件及第2受光元件的集成型光模块的光轴调整方法,所述光分波器将入射光分波为波长不同的至少第1光和第2光,所述第1光适合于第1受光元件的受光波长波段,所述第2光适合于第2受光元件的受光波长波段,所述第1受光元件及第2受光元件分别接收第1光及第2光,其特征在于,所述光轴调整方法包括:使导入到封装内的入射光的波长变化,通过第1受光元件及第2受光元件分别检测由第1滤波器及第2滤波器分波的光来测定输出电流的测定工序;根据相对于入射光的波长变化的输出电流的变化来检测第1光及第2光的中心波长的检测工序;将第1光及第2光的中心波长和第1滤波器及第2滤波器的设计透过波长进行比较,将各自的差值设为第1波长偏移及第2波长偏移的工序;以及调整光分波器的位置以使第1波长偏移及第2波长偏移的总和变小的调整工序。
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