[发明专利]材料缺陷检测装置，材料缺陷检测系统，材料缺陷检测方法和非暂时性计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201780066322.8 | 申请日： | 2017-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN109891228B | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 石川徹也;吉田英樹 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陆嘉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了一种可以容易地估计材料缺陷的形状信息的材料缺陷检测装置、材料缺陷检测系统、材料缺陷检测方法和程序。一种材料缺陷检测装置，用于利用由磁传感器阵列测量的预定区域中的磁场分布来检测金属设备的预定区域中的材料缺陷，该材料缺陷检测装置设置有用于基于由磁传感器阵列测量的磁场分布计算预定区域中的磁偶极子的密度分布的磁偶极密度分布计算器，以及用于基于磁偶极子的密度分布计算预定区域中的材料缺陷的深度分布的深度分布计算器。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 缺陷 检测 装置 系统 方法 暂时性 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种材料缺陷检测装置，用于利用包括多个磁传感器的磁传感器阵列测量的预定区域中的磁场分布来检测金属设备的预定区域中的材料缺陷，所述材料缺陷检测装置包括：磁偶极子密度分布计算器，所述磁偶极子密度分布计算器被配置为基于由所述磁传感器阵列测量的磁场分布来计算所述预定区域中的磁偶极子的密度分布；以及深度分布计算器，所述深度分布计算器被配置为基于所述磁偶极子的密度分布来计算所述预定区域中的材料缺陷的深度分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于横河电机株式会社，未经横河电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780066322.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：气体传感器胶囊
- 下一篇：用于检测结构元件之间粘合强度的弱化的系统和方法
