[发明专利]用于检查感应负载的控制电路的方法和装置在审
申请号: | 201780066715.9 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN110023774A | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | P·厄勒;F·米歇尔 | 申请(专利权)人: | 大陆-特韦斯股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01R31/26;B60T8/88 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 汤国华 |
地址: | 德国法*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于检查感应负载的控制电路的方法,其中,测量和评估一个或两个电流。本发明还涉及一种用于执行这种方法的装置。 | ||
搜索关键词: | 感应负载 控制电路 测量和评估 方法和装置 检查 | ||
【主权项】:
1.一种用于检查感应负载(10)的控制电路(15)的方法,‑其中,该控制电路(15)具有‑再循环晶体管(20)和驱动器晶体管(30),‑其中,该再循环晶体管(20)的第一极和该感应负载(10)的第一极连接到供电电压,‑其中,该再循环晶体管(20)的第二极和该感应负载(10)的第二极连接到该驱动器晶体管(30)的第一极,并且‑其中,该驱动器晶体管(30)的第二极连接到不同于该供电电压的电势、尤其是地,‑其中,该方法包括以下步骤:‑导通该驱动器晶体管(30)持续检查周期,‑在第一测量时间处测量流经该驱动器晶体管(30)的第一电流,其中,该第一测量时间在该检查周期结束之前,‑导通该再循环晶体管(20),‑当该再循环晶体管(20)导通时,在第二测量时间处测量流经该再循环晶体管(20)的第二电流,以及‑基于该第一电流与该第二电流之间的偏差来识别故障状态。
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