[发明专利]活体检测方法和设备

摘要

一种检测电接触表面处可能的活体接触的方法，其中活体具有可检测的特性初始阻抗以及在电接触表面处于触摸电压的情况下接触电接触表面时由初始阻抗定义的相应特性时间常数，其中该方法包括向接触表面发送无危害性的探测信号，其中探测信号包括一个探测脉冲或形成一个探测脉冲序列的多个探测脉冲，并且探测脉冲具有基准电压电平以及探测电压电平，探测电压电平高于基准电压电平且等于触摸电压，或探测电压电平低于基准电压电平且等于触摸电压；响应于电探测信号检测来自接触表面的电响应，其中电响应包括电响应信号；以及根据电响应信号确定在电接触表面处是否存在可能的活体接触。

主权项

1.一种检测电接触表面处可能的活体接触的方法，其中所述活体具有可检测的特性初始阻抗以及在所述电接触表面处于触摸电压的情况下接触所述电接触表面时由所述初始阻抗定义的相应特性时间常数，其中所述方法包括：‑向所述接触表面发送无危害性的探测信号，其中所述探测信号包括一个探测脉冲或形成一个探测脉冲序列的多个探测脉冲，并且所述探测脉冲具有基准电压电平以及探测电压电平，所述探测电压电平高于所述基准电压电平且等于所述触摸电压，或所述探测电压电平低于所述基准电压电平且等于所述触摸电压；‑响应于电探测信号检测来自所述接触表面的电响应，其中所述电响应包括电响应信号；以及‑根据所述电响应信号确定在所述电接触表面处是否存在可能的活体接触；其中所述探测脉冲在实质上短于定义上升沿的所述时间常数的上升时间内从所述基准电压电平上升到所述探测电压电平，并且在实质上长于所述时间常数的持续时间期间保持在所述探测电压电平，或者其中，所述探测脉冲具有基准电压电平以及低于所述基准电压电平并且等于所述触摸电压的探测电压电平，并且其中所述探测脉冲在实质上短于定义下降沿的所述时间常数的下降时间内从所述基准电压电平下降到所述探测电压电平，并且在实质上长于所述时间常数的持续时间期间保持在所述探测电压电平；其中所述方法包括将在定义检测时间段的时间窗口中响应于所述探测信号而接收的所述电响应与参考响应进行比较，并确定所述电响应是否与所述参考响应匹配，以判断在所述电接触面处是否存在活体接触；以及其中所述参考响应是将所述探测信号施加到所述活体或施加到具有所述活体的所述特性初始阻抗的无源电阻抗网络而产生的预期响应，或者其中，所述参考响应是参考形成样本池的相应多个活体的多个样本响应而确定的预期响应，并且所述样本响应是通过以下操作来获得的：将所述探测信号单独地施加到所述样本池的样本活体来收集响应信号，并且每个样本活体具有可检测的特性初始阻抗以及在所述电接触表面处于所述探测电压的情况下接触所述电接触表面时由所述初始阻抗定义的相应特性时间常数。