[发明专利]导电金刚石颗粒、导电金刚石电极和测试装置在审
| 申请号： | 201780068974.5 | 申请日： | 2017-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN110072811A | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 近藤刚史;中岛启人;相川达男;汤浅真;大佐佐崇宏;小番昭宏 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光;学校法人东京理科大学 |
| 主分类号： | C01B32/26 | 分类号： | C01B32/26;C23C16/27;C25B11/12;G01N27/30 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 张全信;赵蓉民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了一种导电金刚石颗粒，其包括：颗粒状基底；和在颗粒状基底的至少部分表面上的掺硼的金刚石膜，其中导电金刚石颗粒的平均粒径大于0.5微米，并且其中导电金刚石颗粒在532微米的激发波长下的拉曼光谱测量中，导电金刚石颗粒在1,580cm－1处的强度与导电金刚石颗粒在1,332cm－1处的强度的比小于0.090。 | ||
| 搜索关键词： | 导电金刚石 颗粒状 基底 导电金刚石电极 拉曼光谱测量 测试装置 激发波长 金刚石膜 平均粒径 掺硼 | ||
【主权项】：
1.一种导电金刚石颗粒，其包括：颗粒状基底；和在所述颗粒状基底的至少部分表面上的掺硼的金刚石膜，其中所述导电金刚石颗粒的平均粒径大于0.5微米，和其中所述导电金刚石颗粒在532微米的激发波长下的拉曼光谱测量中，所述导电金刚石颗粒在1,580cm－1处的强度与所述导电金刚石颗粒在1,332cm－1处的强度的比小于0.090。
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