[发明专利]玻璃基板的制造方法在审

专利信息
申请号: 201780070058.5 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN109937193A 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 西川佳范 申请(专利权)人: 日本电气硝子株式会社
主分类号: C03B33/037 分类号: C03B33/037;G01N21/958;G02F1/1333
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘影娜
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种玻璃基板的制造方法,该玻璃基板的制造方法包含从母玻璃板制造玻璃基板的工序(1)。对于制造玻璃基板的工序(1),在缺陷检测工序(S1)中,从所述母玻璃板检测综合缺陷,该综合缺陷由按照规定的判定基准成为合格的合格缺陷和按照所述判定基准成为不合格的不合格缺陷构成。之后,在批次形成工序(S3)中,由多张所述母玻璃板形成一个批次。在数据算出工序(S4)中,针对所述批次算出每一张所述母玻璃板的所述综合缺陷或者所述合格缺陷的平均个数。然后,在批次判定工序(S5)中,基于在数据算出工序(S4)中算出的所述综合缺陷或者所述合格缺陷的平均个数,来判定所述批次是否合格。
搜索关键词: 玻璃基板 玻璃板 综合缺陷 制造 判定基准 缺陷检测工序 判定工序 批次形成 判定 检测
【主权项】:
1.一种玻璃基板的制造方法,其包含从母玻璃板制造玻璃基板的工序,所述玻璃基板的制造方法的特征在于,在制造所述玻璃基板的工序中,在从所述母玻璃板检测到综合缺陷之后,由多张所述母玻璃板形成一个批次,该综合缺陷由按照规定的判定基准成为合格的合格缺陷和按照所述判定基准成为不合格的不合格缺陷构成,基于针对所述批次算出的每一张所述母玻璃板的所述综合缺陷或者所述合格缺陷的平均个数,来判定所述批次是否合格。
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