[发明专利]对输送机上的异物进行探测的多能量X射线吸收成像

摘要

使用多能量X射线吸收成像对输送带上的材料进行探测的装置和方法。由像素的线阵列组成的光谱X射线探测器接收被从X射线源引导穿过输送带的X射线。X射线在其穿过输送带和输送带上的材料时发生衰减。每个像素产生所接收到的X射线的能谱。每个像素所接收到的能谱被与源X射线能谱相关，以确定所测量到的衰减，随后该所测量到的衰减被与衰减模型相关，该衰减模型包括预期在带内或带上的一组预选构成材料的衰减系数。针对每个像素使用数学回归将测量到的衰减拟合到衰减模型，以得出每种构成材料的厚度。

主权项

1.一种用于对输送带上的材料进行探测的装置，包括：沿着输送方向输送产品的输送带；X射线源，所述X射线源引导X射线束沿着X射线路径穿过所述输送带的厚度，所述X射线束具有分布在源能谱上的源强度；光谱X射线探测器，所述光谱X射线探测器包括在所述输送带的与所述X射线源相反的一侧上的一个或多个像素，所述一个或多个像素在横跨所述输送带的宽度的离散像素位置处接收在穿过所述输送带、被输送的所述产品以及在所述输送带上的与被输送的所述产品一起前进的任何异物时发生衰减的X射线；其中，所述一个或多个像素限定每个像素位置处的相应视场，并且确定在每个像素位置处的相应视场中接收到的分布在衰减X射线的能谱上的接收到的强度；处理系统，所述处理系统将在每个像素位置处接收到的能谱与所述源能谱相关联以确定所述X射线的测量衰减，并且将所述测量衰减与X射线衰减模型相关联，所述X射线衰减模型包括一组预选构成材料的衰减系数，所述一组预选构成材料包括构成所述产品的材料、构成所述输送带的材料以及构成被怀疑为可能的污染物的异物的材料，从而确定在每个像素位置处的视场中的材料的厚度。