[发明专利]热原子层蚀刻工艺有效
申请号: | 201780075642.X | 申请日: | 2017-12-07 |
公开(公告)号: | CN110050331B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | T·E·布隆贝格;朱驰宇;M·J·图奥米恩;S·P·郝卡;V·莎尔玛 | 申请(专利权)人: | ASMIP控股有限公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01L29/20;H01J37/32;H01L21/306 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 张全信;赵蓉民 |
地址: | 荷兰,*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了热原子层蚀刻工艺。在一些实施例中,该方法包括至少一个蚀刻循环,其中所述基材交替且序贯地暴露于第一气相卤化物反应物和第二气相卤化物反应物。在一些实施例中,第一反应物可包含有机卤化物化合物。在热ALE循环期间,基材不与等离子体反应物接触。 | ||
搜索关键词: | 原子 蚀刻 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种通过化学原子层蚀刻在反应室中的基材的表面上蚀刻膜的方法,所述方法包括一个或多个蚀刻循环,每个循环包括:将所述基材暴露于包含第一卤化物配体的第一气相卤化物反应物,以在所述基材表面上形成被吸附物种,其中所述第一气相卤化物反应物不包含氢;和随后将所述基材暴露于包含第二卤化物配体的第二气相卤化物反应物,所述第二气相卤化物反应物将所述被吸附物种转换成挥发性物种,使得至少一些材料从所述膜中去除,其中所述第二气相卤化物反应物不包含氢;和其中所述基材在所述蚀刻循环期间不与等离子体反应物接触。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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