[发明专利]用于自校准的自校准CT检测器、系统和方法有效
申请号: | 201780076455.3 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN110072459B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 比朱·雅各布;布莱恩·大卫·亚诺夫;芮雪 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/00;G01T1/24 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖;钱慰民 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本方法涉及基于检测器和X射线源的检测到的不对准而进行的CT检测器的自校准。本方法使所述检测器对相对于温度和焦点移动的变化更稳健。与常规的基于CT的诊断图像相比,由能量分辨校准的响应信号生成的诊断图像能够呈现增强的特征。 | ||
搜索关键词: | 用于 校准 ct 检测器 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于校准包括X射线源和像素化检测器的能量分辨计算机断层摄影(CT)系统的方法,所述方法包括:对于包括多个段的检测器元件的每个相应的段,获取相应的响应信号,其中每个响应信号包括多个光子计数,每个光子计数对应于所述相应的段的不同的能量仓;对于所述检测器元件,确定第一段的能量仓的第一光子计数和第二段的相同的能量仓的第二光子计数,其中所述第一段和所述第二段在所述相应的检测器元件内竖直地偏移;基于所述第一光子计数和所述第二光子计数来确定光子计数比;基于所述光子计数比来确定所述检测器元件相对于所述X射线源的不对准角度;基于所述光子计数比和所述不对准角度来确定所述检测器元件的所述多个段的多个增益因子;以及使用所述多个增益因子和所述响应信号来确定所述检测器元件的校正光谱。
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