[发明专利]传感器阵列的多阶段自电容扫描有效
| 申请号： | 201780076684.5 | 申请日： | 2017-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN110050253B | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 安德理·马哈瑞塔 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张瑞;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文描述了用于传感器阵列的多阶段自电容(MPSC)扫描的技术。在示例实施例中，设备包括耦合到处理逻辑的传感器逻辑。传感器逻辑被配置成在多个扫描操作的每一个扫描操作中同时感测传感器阵列的多个传感器元件，以便获得多个测量值，其中每个测量值表示多个传感器元件的在相对应的扫描操作期间累积的收集电荷。处理逻辑被配置成基于所获得的多个测量值来确定数据值，其中数据值分别表示多个传感器元件的自电容。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 阵列 阶段 电容 扫描 | ||
【主权项】：
1.一种设备，包括：传感器逻辑，其被配置成在多个扫描操作的每一个扫描操作中同时感测传感器阵列的多个传感器元件，以获得多个测量值，其中，每个测量值表示所述多个传感器元件的在所述多个扫描操作的相对应的扫描操作期间累积的收集电荷；以及处理逻辑，其被配置成基于所述多个测量值确定分别表示所述多个传感器元件的自电容的数据值。
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