[发明专利]颗粒计数装置有效
| 申请号： | 201780077113.3 | 申请日： | 2017-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110073197B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 滨田基明;竹本和正;川并洋司 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N15/12 | 分类号： | G01N15/12 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 李雪春;王维玉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种颗粒计数装置，其进行基于电阻法的颗粒计数的多个计数室(1、2)的各孔的外侧的出口通过合流配管与吸引泵(3)连接。在计数室(2)的计数完成后，液体供给部(4)向该计数室(2)侧供给追加液，以使该计数室(2)的试样液(M2)的液面不下降到孔(21)或规定的液面位置。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 计数 装置 | ||
【主权项】：
1.一种对试样液中的颗粒进行计数的颗粒计数装置，其特征在于包括：多个计数室，具有用于基于电阻法的颗粒计数的孔和电极对；以及吸引泵，所述多个计数室的各孔的外侧的出口通过合流配管与所述吸引泵连接，所述颗粒计数装置具有向1个以上的规定的计数室供给液体的液体供给部，所述液体供给部在所述1个以上的规定的计数室的计数完成后，向所述1个以上的规定的计数室或比所述合流配管的合流部更靠近所述规定的计数室侧的流道供给液体，以使所述1个以上的规定的计数室中的试样液的液面不下降到孔或者不下降到比孔靠上的规定的液面位置。
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