[发明专利]用于测量介质的密度和/或质量流率的振动型传感器

摘要

本发明涉及用于测量介质的密度和/或质量流率的振动型传感器(100)，具有：至少一个第一振荡器(O1)包括：第一测量管(101)，在其空载位置弯曲且具有第一测量管中心线，该中心线相对于第一测量管横剖面镜像对称地延伸，第一测量管被设计成以关于第一测量管横剖面镜像对称的第一弯曲振动模式振动；第二测量管(102)，在其空载位置弯曲并且具有第二测量管中心线，该中心线相对于第一测量管横剖面镜像对称地延伸，第二测量管被设计成以关于第一测量管横剖面镜像对称的第一弯曲振动模式振动；至少一个第一弹性振动联接器(212)，用于将第一测量管和第二测量管相对于振荡器联接到彼此；以及至少一个激励器(142)，用于至少以第一弯曲振动模式激励振荡器振动，第一测量管在其空载位置弯曲，并且第二测量管在其空载位置弯曲。存在第一测量管纵剖面，其中第一测量管纵向轴线与第一测量管纵剖面之间的距离的平方上的积分最小。当处于第一弯曲振动模式时第一测量管基本垂直于第一测量管纵剖面振动，第二测量管在其空载位置弯曲。存在第二测量管纵剖面，其中第二测量管纵向轴线与第二测量管纵剖面之间的距离的平方上的积分最小。当处于第一弯曲振动模式时第二测量管基本垂直于第二测量管纵剖面振动。第一测量管和第二测量管朝相同方向弯曲。对于第一测量管和第二测量管以所述第一弯曲振动模式近似地同相振动的振动模式，振荡器(O1)具有第一振荡器共振频率，并且对于第一测量管和第二测量管以第一弯曲振动模式近似地反相振动的振动模式，振荡器具有第二振荡器共振频率，第二振荡器共振频率大于第一振荡器共振频率。没有弹性振动联接器的第一测量管具有针对第一弯曲振动模式的第一测量管共振频率，并且没有弹性振动联接器的第二测量管具有针对第一弯曲振动模式的第二测量管共振频率，这两个测量管共振频率与其算术平均值相差不超过8％，特别地不超过4％，并且优选地不超过2％，并且特别优选地不超过1％。

主权项

1.用于测量介质的密度和/或质量流率的振动型传感器(100)，具有：至少第一振荡器(O1)，所述第一振荡器(O1)包括：第一测量管(101)，所述第一测量管(101)在其空载位置弯曲并且具有第一测量管中心线，所述第一测量管中心线相对于第一测量管横剖面镜像对称地延伸，其中所述第一测量管被设计成以关于所述第一测量管横剖面镜像对称的第一弯曲振动模式振动，第二测量管(102)，所述第二测量管(102)在其空载位置弯曲并且具有第二测量管中心线，所述第二测量管中心线相对于所述第一测量管横剖面镜像对称地延伸，其中所述第二测量管被设计成以关于所述第一测量管横剖面镜像对称的所述第一弯曲振动模式振动，至少一个第一弹性振动联接器(212)，所述第一弹性振动联接器(212)把所述第一测量管和所述第二测量管一起联接成所述振荡器，以及至少一个激励器(142)，所述激励器(142)用于至少以所述第一弯曲振动模式激励振荡器振动，其中所述第一测量管在其空载位置弯曲，其中所述第二测量管在其空载位置弯曲，其中给出了第一测量管纵剖面，其中所述第一测量管纵向轴线与所述第一测量管纵剖面之间的距离的平方上的积分最小，其中当处于所述第一弯曲振动模式时所述第一测量管基本垂直于所述第一测量管纵剖面振动，其中所述第二测量管在其空载位置弯曲，其中给出了第二测量管纵剖面，其中所述第二测量管纵向轴线与所述第二测量管纵剖面之间的距离的平方上的积分最小，其中当处于所述第一弯曲振动模式时所述第二测量管基本垂直于所述第二测量管纵剖面振动，其中所述第一测量管和所述第二测量管朝相同方向弯曲，其中，对于所述第一测量管和所述第二测量管以所述第一弯曲振动模式近似地同相振动的振动模式，所述振荡器(O1)具有第一振荡器共振频率，其中，对于所述第一测量管和所述第二测量管以所述第一弯曲振动模式近似地反相振动的振动模式，所述振荡器具有第二振荡器共振频率，其中所述第二振荡器共振频率大于所述第一振荡器共振频率，其中没有所述弹性振动联接器的所述第一测量管具有针对所述第一弯曲振动模式的第一测量管共振频率，其中没有所述弹性振动联接器的所述第二测量管具有针对所述第一弯曲振动模式的第二测量管共振频率，其中这两个测量管共振频率与其算术平均值相差不超过8％，特别地不超过4％，并且优选地不超过2％，并且特别优选地不超过1％。