[发明专利]用于测量荧光寿命的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201780077817.0 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN110178016B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 李相允;姜珉求;元荣载;李承洛;朴炳俊;金炳渊 申请(专利权)人: 英泰克普拉斯有限公司;五松尖端医疗产业振兴财团
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G02B21/00;G02B26/10;G01J1/44;G02B21/06
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 顾红霞;杨利剑
地址: 韩国大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据本发明实施例的荧光寿命测量装置包括:照射光产生单元,其用于产生照射光;荧光光子检测单元,其用于收集在用照射光照射包括荧光分子的样品时产生的荧光光子;转换单元,其用于将收集到的荧光光子转换为第一时钟信号,以及将未经过样品的照射光转换为第二时钟信号;第一模块,其用于根据转换单元分析收集到的荧光光子的荧光寿命;控制单元,其用于根据第一模块指定样品的关注范围(ROI);以及第二模块,其用于分析对应于ROI的荧光光子的荧光寿命。
搜索关键词: 用于 测量 荧光 寿命 装置 方法
【主权项】:
1.一种荧光寿命测量装置,包括:照射光产生单元,其构造成产生照射光;荧光光子检测单元,其构造成收集通过用所述照射光照射包括荧光分子的样品而产生的荧光光子;转换单元,其构造成将收集到的荧光光子转换为第一时钟信号,并将未经过所述样品的照射光转换为第二时钟信号;第一模块,其构造成根据所述转换单元分析所述收集到的荧光光子的荧光寿命;控制单元,其构造成根据所述第一模块指定所述样品的关注范围(ROI);以及第二模块,其构造成分析对应于所述ROI的荧光光子的荧光寿命。
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