[发明专利]高选择性腐蚀传感器系统在审

专利信息
申请号: 201780079198.9 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN110100171A 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 小迫照和 申请(专利权)人: 矢崎总业株式会社
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01N17/04
代理公司: 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 代理人: 邹轶鲛;石红艳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供了一种高选择性腐蚀传感器系统,其能够在短时间内高敏感度和高选择性地评估多种金属腐蚀环境。高选择性腐蚀传感器系统设有:传感器组,其包括选自包括传感器表面上的金属薄膜的材料各自不同的多个表面等离子共振传感器、传感器表面上的功能膜的材料各自不同的多个表面等离子共振传感器、和分别使用不同的金属微小颗粒的多个局部表面等离子共振传感器的组中的至少一个传感器;投光器,其朝着各传感器投射光;检测器,其检测从各传感器发射的光束作为与光束强度对应的信号强度;数据库,其积存关于被测量金属的腐蚀的信息;以及分析器,其通过基于由检测器检测的多个信号强度和数据库中积存的信息进行模式识别而分析被测量金属的腐蚀的程度。
搜索关键词: 传感器 腐蚀传感器 高选择性 表面等离子共振传感器 传感器表面 测量金属 积存 数据库 检测器 腐蚀 等离子共振 检测器检测 传感器组 高敏感度 金属薄膜 金属腐蚀 局部表面 模式识别 微小颗粒 系统提供 分析器 功能膜 投光器 投射光 金属 发射 检测 评估 分析
【主权项】:
1.一种高选择性腐蚀传感器系统,包括:传感器组,该传感器组包括选自表面等离子共振传感器和局部表面等离子共振传感器中的至少两个传感器,所述至少两个传感器相对于腐蚀环境具有不同的耐腐蚀性和不同的腐蚀倾向;投光器,该投光器被构造为朝着所述传感器组中的所述传感器投射光;检测器,该检测器被构造为检测来自所述传感器组中的所述传感器的光束作为信号强度,该信号强度对应于所述光束的强度;数据库,该数据库中积存了关于被测量金属的腐蚀的信息;和分析器,该分析器被构造为通过基于由所述检测器检测的所述信号强度和积存在所述数据库中的信息进行模式识别,而分析所述被测量金属的腐蚀的程度。
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