[发明专利]用于通过微波分析流动介质的测量组件有效

专利信息
申请号: 201780080970.9 申请日: 2017-11-22
公开(公告)号: CN110114639B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 斯特凡·普夫吕格尔;斯特凡·齐格勒;弗兰克·沃伊特 申请(专利权)人: 恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司
主分类号: G01F1/58 分类号: G01F1/58;G01F1/66;G01N22/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 瑞士,*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种测量组件,其包括:金属测量管(110),其两侧开口以承载介质,其中测量管(110)具有外圆周表面、内圆周表面和至少两个孔口,其中所述两个孔口从所述外圆周表面延伸到所述内圆周表面;介电包层(120),其靠在所述测量管(110)的所述内圆周表面上;第一微波天线(130),其被布置在所述测量管(110)中,并且能够通过所述第一孔口进行与所述第一微波天线(110)的接触;第二微波天线(130),其被布置在所述测量管(110)中,并且能够通过所述第二孔口进行与所述第二微波天线(130)的接触;其中所述介电包层(120)形成介电波导,经由该介电波导,微波能够至少在一定程度上从所述第一微波天线(130)到达所述第二微波天线(130)。
搜索关键词: 用于 通过 微波 分析 流动 介质 测量 组件
【主权项】:
1.一种测量组件(100),其包括:金属测量管(110),所述金属测量管(110)两侧开口以承载介质,其中所述测量管(110)具有外圆周表面、内圆周表面和至少两个孔口,其中所述两个孔口从所述外圆周表面延伸到所述内圆周表面;介电包层(120),所述介电包层(120)靠在所述测量管(110)的所述内圆周表面上;第一微波天线(130),所述第一微波天线(130)被布置在所述测量管(110)中,并且能够通过所述第一孔口进行与所述第一微波天线(130)的接触;第二微波天线(130),所述第二微波天线(130)被布置在所述测量管(110)中,并且能够通过所述第二孔口进行与所述第二微波天线(130)的接触;其中所述介电包层(120)形成介电波导,经由所述介电波导,微波能够至少在一定程度上从所述第一微波天线(130)到达所述第二微波天线(130)。
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