[发明专利]利用光学测距系统进行自适应扫描的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201780081807.4 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN110140063B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 斯蒂芬·C·克劳奇;兰迪·R·雷贝尔;詹姆斯·柯里;特伦顿·伯格 申请(专利权)人: 布莱克莫尔传感器和分析有限责任公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481;G01S17/88
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 周亚荣;邓聪惠
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 利用激光扫描仪进行自适应扫描的技术包括:以粗略角度分辨率获得距离测量值,以及确定距离门子集和特征距离。精细角度分辨率基于该特征距离和目标空间分辨率。如果精细角度分辨率比粗略角度分辨率精细,则基于第一角度分辨率针对角度宽度子集的水平片段确定最小竖向角度和最大竖向角度。然后操作扫描激光测距系统以在最小竖向角度与最大竖向角度之间以片段中的第二角度分辨率获得第二距离测量值。在一些实施方式中,对于距离门子集中的每个水平片段,使用针对该片段的最小竖向角度和最大竖向角度重复扫描。
搜索关键词: 利用 光学 测距 系统 进行 自适应 扫描 方法
【主权项】:
1.一种操作扫描激光测距系统的方法,包括:a.针对在扫描激光测距系统的视野内处于目标最大距离处的对象的距离测量值确定目标空间分辨率,以及确定用于所述系统的使所述系统产生所述目标最大距离处的粗略空间分辨率的粗略角度分辨率,其中,所述粗略空间分辨率大于所述目标空间分辨率;b.操作所述扫描激光测距系统,以在第一维度上以基于所述粗略角度分辨率的粗略的第一维度角度分辨率在第一维度粗略开始角度与第一维度粗略停止角度之间以及在第二维度上以基于所述粗略角度分辨率的粗略的第二维度角度分辨率在粗略的第二维度开始角度与粗略的第二维度停止角度之间,获得粗略的多个距离测量值;c.确定所述粗略的多个距离测量值的距离门子集,其中,所述距离门子集中的每个距离测量值大于或等于子集最小距离并且小于子集最大距离;d.基于所述距离门子集,确定所述子集最小距离与所述子集最大距离之间的特征距离;e.基于所述特征距离和所述目标空间分辨率,确定精细的第一维度角度分辨率和精细的第二维度角度分辨率;以及f.如果所述精细的第一维度角度分辨率比所述粗略的第一维度角度分辨率精细,或者如果所述精细的第二维度角度分辨率比所述粗略的第二维度角度分辨率精细,则g.基于所述粗略的第一维度角度分辨率,确定子集第一维度角度筐大小;h.确定由所述子集第一维度角度筐大小分离的精细的第一维度开始角度和精细的第一维度停止角度;i.确定所述粗略的多个距离测量值的子集的片段,其中所述片段中的每个距离测量值都在从所述精细的第一维度开始角度到所述精细的第一维度停止角度的子集中;j.确定所述片段中的最小第二维度角度和所述片段中的最大第二维度角度;以及k.操作所述扫描激光测距系统,以针对所述片段在所述最小第二维度角度与所述最大第二维度角度之间以所述片段中的所述精细的第一维度角度分辨率和所述精细的第二维度角度分辨率获得精细的多个距离测量值。
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