[发明专利]用于对样品分析设备中的操作条件进行光学监测的系统

摘要

一种用于对样品进行基于光学的测量的样品分析设备，其包括外壳、第一光源、激发光学器件、第一光检测器、发射光学器件和监测系统，所有这些组件都设置在外壳中。所述监测系统被配置为监测设置在外壳中的可移动部件。所述监测系统包括用于照亮可移动部件的一个或多个光源，以及用于检测可移动部件响应于被照亮而反射的光的一个或多个光检测器。

主权项

1.一种用于对样品执行基于光学的测量的样品分析设备，所述样品分析设备包括：外壳；第一光源，其设置在所述外壳中且被配置为产生激发光；激发光学器件，其设置在所述外壳中且被配置为将所述激发光从所述第一光源引导到所述样品，其中所述样品响应于被所述激发光照射而发射出发射光；第一光检测器，其设置在所述外壳中且被配置为测量所述发射光；发射光学器件，其设置在所述外壳中且被配置为将所述发射光从所述样品引导至所述第一光检测器；以及监测系统，其配置为监测设置在所述外壳中的可移动部件，所述监测系统包括：第二光源，其设置在所述外壳中且被配置为照射所述可移动部件；以及第二光检测器，其设置在所述外壳中且被配置为检测所述可移动部件响应于被照射而反射的光。