[发明专利]显微镜设备、方法和系统有效

专利信息
申请号: 201780083341.1 申请日: 2017-11-12
公开(公告)号: CN110178069B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: E·M·C·希尔曼 申请(专利权)人: 纽约市哥伦比亚大学理事会
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G01N21/64;G02B21/36
代理公司: 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418 代理人: 赵飞;张素玲
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: NIR激发光的脉冲光束以倾斜角度投射到样本(345)中,并由扫描元件扫描通过样本中的体积。双光子激发能激发样本内的荧光。无论扫描元件的取向如何,荧光都成像到保持静止的中间图像平面上。图像由光检测元件(392)的线性阵列、或矩形阵列的线性部分捕获。在扫描元件的任何给定位置处,线性阵列(或部分)同时对所有深度进行成像。针对扫描元件的多个不同取向中的每一个,捕获多个图像。控制扫描元件的取向以二维模式移动,这使得激发光光束扫掠出样本内的三维体积。
搜索关键词: 显微镜 设备 方法 系统
【主权项】:
1.一种成像装置,包括:图像阵列,所述图像阵列具有光电检测器的阵列;成像光学器件,所述成像光学器件位于样本空间和所述图像阵列之间,以将来自所述样本空间的光成像到所述图像阵列上;所述成像光学器件具有物镜,来自所述样本空间的二次光穿过所述物镜,并且激发光通过所述物镜由光束投射器沿着光束路径投射,使得由所述激发光生成的二次光被传送到所述图像阵列;所述成像光学器件布置成将来自沿着所述光束路径的相应间隔的二次光传送到所述光电检测器中的每一个;所述光束投射器和所述成像光学器件包括扫描元件和解扫描元件,所述扫描元件和解扫描元件由可编程的扫描控制器控制,并且横向扫掠通过所述样本空间的所述光束路径;在扫描使所述激发光移动的情况下,控制所述解扫描元件有效地将来自所述样本区域的光保持在所述图像阵列的相应光电检测器上;读出控制器,所述读出控制器对来自所述光电检测器的信号进行采样;针对至少一次扫描中的每一次,处理来自所述读出控制器的数据,以在扫描期间估计所述样本空间中的所述二次光的分布,以形成与在和所述光电检测器的数量对应的层中分离的体素对应的数据。
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