[发明专利]实现重合的光子计数检测器有效
申请号: | 201780084251.4 | 申请日: | 2017-12-05 |
公开(公告)号: | CN110462442B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 付赓;金燕南;彼得·迈克尔·伊迪克;陈锋 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01T1/17 | 分类号: | G01T1/17;G01T1/24;G01T1/29 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖;钱慰民 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本方法涉及使用诸如基于CZT或CdTe的检测器的能量分辨光子计数检测器以获取通过常规能量积分检测器不可用的光谱信息。在某些实施方案中,所讨论的本方法减少或消除了采用重合逻辑和具有短整形时间的整形放大器的设计中的由相邻像素中的瞬态信号引起的光谱污染。 | ||
搜索关键词: | 实现 重合 光子 计数 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种检测器读出电路,包括:/n电荷敏感放大器,所述电荷敏感放大器包括:/n放大器,所述放大器被配置成从辐射检测器接收输入信号并且输出放大信号;/n复位开关,所述复位开关被配置成接收复位信号;和/n电容器,所述电容器与所述复位开关和放大器电连接;/n整形放大器,所述整形放大器被配置成接收所述放大信号并且对所述放大信号执行整形操作以生成整形信号,其中所述整形操作的整形时间约为50ns或更短;/n能量读出和控制电路,所述能量读出和控制电路被配置成从所述整形放大器接收所述整形信号,所述电路包括:/n积分器,所述积分器被配置成接收所述整形信号并且在时间上对所述整形信号积分以生成积分信号;/n比较器,所述比较器被配置成接收所述积分信号并且确定真实检测事件以使得所述积分信号大于预设阈值,和/n峰值模数转换器,所述峰值模数转换器被配置成从所述比较器和所述整形放大器接收输入信号并且输出检测的真实事件的能量信息;/n延迟电路,所述延迟电路被配置成从所述比较器接收输出并且生成延迟信号以操作所述电荷敏感放大器的所述复位开关。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司,未经通用电气公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780084251.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统
- 下一篇:半导体辐射检测器