[发明专利]发光二极管(LED)测试设备和制造方法

摘要

实施例涉及用于制造包含发光二极管(LED)结构的产品的功能测试方法。具体地，通过使用场板，经由位移电流耦合装置注入电流来功能地测试LED阵列，该场板包括靠近LED阵列放置的电极和绝缘体。然后将受控电压波形施加到场板电极以并联激励LED装置得到高通量。相机记录由电激发产生的各个光发射，以产生多个LED装置的功能测试。改变电压条件可在不同的电流密度水平激励LED，以在功能上测量外部量子效率和其他重要的装置功能参数。

主权项

1.一种用于观察来自发光装置结构的发光的设备，所述发光装置结构设置在支撑衬底上，所述支撑衬底具有能够从表面到达的第一面接触层和位于所述发光装置结构下面的第二接触层，所述设备包括：场板装置，所述场板装置具有第一面和与所述第一面相对的第二面，所述第二面包括导电层和上覆介电层，所述介电层位于所述发光装置结构的第一接触层的至少一部分的附近，电压源用于产生电压，所述电压源具有第一端子和第二端子，所述第一端子耦接至所述场板装置的所述导电层，所述第二端子耦接到地电位，所述电压源能够生成时变电压波形，以在所述场板装置的所述介电层和发光装置结构之间形成电压电位，以将电流注入到所述发光装置结构中，以使所述发光装置结构以一模式发射电磁辐射；和检测器装置，耦接到所述发光装置结构，以形成源自所述发光装置结构的以所述模式的所述电磁辐射的图像。