[发明专利]用于磁共振成像的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201780084516.0 申请日: 2017-01-25
公开(公告)号: CN110226100B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 丁彧;何任杰 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: G01R33/565 分类号: G01R33/565
代理公司: 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 代理人: 袁春晓
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本公开涉及用于校正MRI图像中的不均匀性的系统和方法。该方法可包括下列步骤:采集第一组k空间数据,采集第二组k空间数据,基于第一组k空间数据和第二组k空间数据生成第一组k空间数据的卷积核,对第一组k空间数据的卷积核执行傅里叶逆变换以获得第一组k空间数据的经逆变换卷积核,并且基于所述第一组k空间数据的经逆变换卷积核来生成校正子。该方法可以在包括至少一个处理器以及存储的机器上实现。
搜索关键词: 用于 磁共振 成像 系统 方法
【主权项】:
1.一种系统,包括:存储器,所述存储器被配置为存储指令、与对象的第一区域有关的使用一个或多个第一线圈采集的第一组k空间数据、与该对象的第一区域有关的使用一个或多个第二线圈采集的第二组k空间数据;以及配置成执行所述指令的至少一个处理器,其中当执行所述指令时,所述至少一个处理器使所述系统执行操作,所述操作包括:基于所述第一组k空间数据和所述第二组k空间数据生成所述第一组k空间数据的卷积核;对所述第一组k空间数据的卷积核执行傅里叶逆变换,以获得所述第一组k空间数据的经逆变换卷积核;基于所述第一组k空间数据的经逆变换卷积核生成校正子;以及将所述校正子作为数据文件以电子形式存储在所述存储器中,其中所述校正子适配成校正与所述一个或多个第一线圈有关的图像。
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