[发明专利]期望成像的解剖结构的定位和计算机断层摄影有效
申请号: | 201780086064.X | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN110267597B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | M·亚尔瓦;K·奈豪姆 | 申请(专利权)人: | 普兰梅卡有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/14;A61B6/08;A61B6/04;G06T19/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 高文静 |
地址: | 芬兰赫*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及设置被成像的解剖结构和计算机断层摄影成像装置的成像部件的相互位置,使得具体地恰好期望获得成像的解剖结构的体积被实际地成像的问题。为了进一步定位,在显示器上显示从待成像的解剖结构生成的三维虚拟定位模型(40)形式的定位工具,从该显示器上可以指向、选择或定义期望获得成像的解剖结构的体积(41)。 | ||
搜索关键词: | 期望 成像 解剖 结构 定位 计算机 断层 摄影 | ||
【主权项】:
1.一种用于定位用于计算机断层摄影成像的解剖结构的方法,在所述方法中使用的布置包括计算机断层摄影成像装置、计算机断层摄影成像装置的控制系统和与计算机断层摄影成像装置功能连接地布置用于显示图像信息的部件,计算机断层摄影成像装置包括X射线成像部件,在该方法中:包括期望获得成像的体积的解剖结构被定位在计算机断层摄影成像装置的成像区域中,虚拟定位模型由所述用于显示图像信息的部件示出,该定位模型示出了所述解剖结构的三维表面的至少一部分并且包括期望获得成像的体积,指向、选择或确定期望获得成像的体积在所述虚拟定位模型中的位置,解析所述虚拟定位模型的坐标集的位置与计算机断层摄影成像装置的X射线成像部件的坐标集的位置的关系,控制信息被发送到计算机断层摄影成像装置的控制系统,用于对期望获得成像的解剖结构的所述体积进行成像,该控制信息基于所述虚拟定位模型的坐标集的位置与计算机断层摄影成像装置的X射线成像部件的坐标集的位置的关系的知识和期望获得成像的所述体积在所述虚拟定位模型中的位置的知识。
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