[发明专利]用于预期的表面性能水平的辐射量确定在审
| 申请号： | 201780087558.X | 申请日： | 2017-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN110366480A | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | K·瑙卡;A·E·菲茨休;赵利华 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | B29C35/08 | 分类号： | B29C35/08;B29C64/153;B29C64/264;B29C64/393;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y50/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘瑜 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 根据示例，一种装置包括处理器和存储器，在该存储器上存储有机器可读指令。指令可以使处理器识别针对三维(3D)物体的表面的预期的表面特性水平，确定作为辐射闪光施加到表面上的辐射量以获得预期的表面特性水平，以及输出作为辐射闪光施加的确定的辐射量，其中辐射源将确定量的辐射闪光施加到3D物体的表面上。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射量 预期的 存储器 表面特性 闪光 施加 辐射 机器可读指令 处理器识别 辐射源 表面性能 处理器 三维 存储 指令 输出 | ||
【主权项】：
1.一种装置，包括：处理器；以及存储器，其上存储有机器可读指令，所述机器可读指令使所述处理器用于：识别针对三维(3D)物体的表面的预期的表面特性水平；确定要被作为辐射闪光施加到所述表面上以获得所述预期的表面性能水平的辐射量；以及输出要被作为辐射闪光施加的确定的辐射量，其中，辐射源用于将所述确定量的辐射闪光施加到所述3D物体的表面上。
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