[发明专利]随机硬件故障的概率度量在审
| 申请号： | 201780089581.2 | 申请日： | 2017-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN110546616A | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 里卡多·文塞利;阿戈斯蒂诺·切法洛 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 11018 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭艳芳;王琦<国际申请>=PCT/EP2 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开一种用于确定包括元件和安全机制(SM)的诸如微控制器的电子系统的随机硬件故障的概率度量的方法。安全机制包括第一层安全机制(FL‑SM)和第二层安全机制(SL‑SM)。第一层安全机制可以提供部件故障的至少部分覆盖，且第二层安全机制可以提供第一层安全机制的故障的至少部分覆盖。该方法包括计算与第一层安全机制相关联的第一概率集合(KSM_D)，计算与部件中的直接违例故障相关联的第二概率集合(KDvF_n)，以及计算与部件中的间接违例故障相关联的第三概率集合(KrvF_n)。该方法包括依赖于第一概率集合、第二概率集合和第三概率集合获得随机硬件故障的概率度量的值。 | ||
| 搜索关键词： | 安全机制 概率集合 第一层 随机硬件故障 概率度量 故障相 关联 部件故障 电子系统 微控制器 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定包括元件和安全机制的电子系统的随机硬件故障的概率度量的方法，所述安全机制包括第一层安全机制和第二层安全机制，其中第一层安全机制可以提供部件的故障的至少部分覆盖，且第二层安全机制可以提供第一层安全机制的故障的至少部分覆盖，所述方法包括：/n计算与所述第一层安全机制相关联的第一概率集合；/n计算与所述部件中的直接违例故障相关联的第二概率集合；/n计算与所述部件中的间接违例故障相关联的第三概率集合；以及/n依赖于所述第一概率集合、所述第二概率集合和所述第三概率集合而获得随机硬件故障的概率度量的值。/n
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