[发明专利]对位装置和测试设备在审
| 申请号： | 201780091706.5 | 申请日： | 2017-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN110709982A | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 董晓雪 | 申请（专利权）人： | 深圳市柔宇科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/68 | 分类号： | H01L21/68 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种对位装置(100)及具有该对位装置(100)的测试设备(1000)。对位装置用于对准显示面板(200)及压头(300)。显示面板(200)设置有对位标识(202)，压头(300)设置有与对位标识(202)对应的对准标识(302)。对位装置(100)包括反射组件(10)和图像获取装置(30)。反射组件(10)用于反射对位标识(202)和对准标识(302)；图像获取装置(30)与对位标识(202)及对准标识(302)对应。图像获取装置(30)用于拍摄反射组件(10)反射的对位标识(202)和对准标识(302)以得到对位标识图像和对准标识图像，对位标识图像和对准标识图像用于辅助调整显示面板(200)和压头(300)处于对准状态。 | ||
| 搜索关键词： | 对位标识 对准 对位装置 图像获取装置 反射组件 显示面板 压头 标识图像 图像 测试设备 对准状态 反射对位 反射 拍摄 | ||
【主权项】：
一种对位装置，用于对准显示面板及压头，所述显示面板设置有对位标识，所述压头设置有与所述对位标识对应的对准标识，其特征在于，所述对位装置包括：/n反射组件，所述反射组件用于反射所述对位标识和所述对准标识；和/n与所述对位标识及所述对准标识对应的图像获取装置，所述图像获取装置用于拍摄所述反射组件反射的所述对位标识和所述对准标识以得到对位标识图像和对准标识图像，所述对位标识图像和所述对准标识图像用于辅助调整所述显示面板和所述压头处于对准状态。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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