[发明专利]半导体元件的驱动电路有效
申请号: | 201780091742.1 | 申请日: | 2017-06-13 |
公开(公告)号: | CN110741542B | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 益原贵志;堀口刚司 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H02M1/08 | 分类号: | H02M1/08;H02M1/00;H03K17/08;H03K17/687 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 驱动电路(100)具有信号生成电路(50)、比较器(6a)、比较器(6b)和短路判定部(8)。信号生成电路(50)生成表示半导体元件(1)的栅极电压的电压检测信号(Vg)和电压检测信号(Vg)的延迟信号(Sd1)之间的差分放大信号(Sa)而作为输出信号。比较器(6a)对差分放大信号(Sa)的值和第1基准电压值(Vref1)进行比较。比较器(6b)对表示栅极电流的电压值(E)和第2基准电压值(Vref2)进行比较。短路判定部(8)根据比较器(6a、6b)各自的比较结果,判定半导体元件(1)是否为短路状态,生成表示判定结果的判定信号(Sj)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 驱动 电路 | ||
【主权项】:
1.一种半导体元件的驱动电路,其具有:/n控制部,其用于基于从外部接收的指令而控制半导体元件的通断状态;/n栅极电压检测部,其用于检测所述半导体元件的栅极电压,生成表示检测出的栅极电压的电压检测信号;/n栅极电流检测部,其用于检测流入至所述半导体元件的栅极电极的电流;/n信号生成电路,其用于生成所述电压检测信号和所述电压检测信号的第1延迟信号之间的第1差分放大信号、所述第1延迟信号和所述电压检测信号的第2延迟信号之间的第2差分放大信号、以及所述电压检测信号的微分信号的任意者而作为输出信号;/n第1比较器,其用于对所述输出信号的值和第1基准值进行比较;/n第2比较器,其用于对由所述栅极电流检测部检测出的电流检测值和第2基准值进行比较;以及/n短路判定部,其用于基于所述第1比较器的比较结果和所述第2比较器的比较结果,判定所述半导体元件是否为短路状态,生成表示判定结果的判定信号。/n
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H02 发电、变电或配电
H02M 用于交流和交流之间、交流和直流之间、或直流和直流之间的转换以及用于与电源或类似的供电系统一起使用的设备;直流或交流输入功率至浪涌输出功率的转换;以及它们的控制或调节
H02M1-00 变换装置的零部件
H02M1-02 .专用于在静态变换器内的放电管产生栅极控制电压或引燃极控制电压的电路
H02M1-06 .非导电气体放电管或等效的半导体器件的专用电路,例如闸流管、晶闸管的专用电路
H02M1-08 .为静态变换器中的半导体器件产生控制电压的专用电路
H02M1-10 .具有能任意地用不同种类的电流向负载供电的变换装置的设备,例如用交流或直流
H02M1-12 .减少交流输入或输出谐波成分的装置
H02M 用于交流和交流之间、交流和直流之间、或直流和直流之间的转换以及用于与电源或类似的供电系统一起使用的设备;直流或交流输入功率至浪涌输出功率的转换;以及它们的控制或调节
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