[发明专利]半导体元件的驱动电路有效

专利信息
申请号: 201780091742.1 申请日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN110741542B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 益原贵志;堀口刚司 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H02M1/08 分类号: H02M1/08;H02M1/00;H03K17/08;H03K17/687
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 驱动电路(100)具有信号生成电路(50)、比较器(6a)、比较器(6b)和短路判定部(8)。信号生成电路(50)生成表示半导体元件(1)的栅极电压的电压检测信号(Vg)和电压检测信号(Vg)的延迟信号(Sd1)之间的差分放大信号(Sa)而作为输出信号。比较器(6a)对差分放大信号(Sa)的值和第1基准电压值(Vref1)进行比较。比较器(6b)对表示栅极电流的电压值(E)和第2基准电压值(Vref2)进行比较。短路判定部(8)根据比较器(6a、6b)各自的比较结果,判定半导体元件(1)是否为短路状态,生成表示判定结果的判定信号(Sj)。
搜索关键词: 半导体 元件 驱动 电路
【主权项】:
1.一种半导体元件的驱动电路,其具有:/n控制部,其用于基于从外部接收的指令而控制半导体元件的通断状态;/n栅极电压检测部,其用于检测所述半导体元件的栅极电压,生成表示检测出的栅极电压的电压检测信号;/n栅极电流检测部,其用于检测流入至所述半导体元件的栅极电极的电流;/n信号生成电路,其用于生成所述电压检测信号和所述电压检测信号的第1延迟信号之间的第1差分放大信号、所述第1延迟信号和所述电压检测信号的第2延迟信号之间的第2差分放大信号、以及所述电压检测信号的微分信号的任意者而作为输出信号;/n第1比较器,其用于对所述输出信号的值和第1基准值进行比较;/n第2比较器,其用于对由所述栅极电流检测部检测出的电流检测值和第2基准值进行比较;以及/n短路判定部,其用于基于所述第1比较器的比较结果和所述第2比较器的比较结果,判定所述半导体元件是否为短路状态,生成表示判定结果的判定信号。/n
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