[发明专利]X射线检测器在审
| 申请号： | 201780093157.5 | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN110892291A | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本文公开了一种适于检测X射线的装置。所述装置可包括X射线吸收层(110)、电子层(120)和分布层(126)。所述X射线吸收层(110)可包括第一多个电触点(119B)，并配置成由入射到所述X射线吸收层(110)上的X射线在所述第一多个电触点(119B)上产生电信号。所述电子层(120)可包括第二多个电触点(125)和电子系统(121)，其中所述电子系统(121)电连接到所述第二多个电触点(125)，并配置成处理或解释所述电信号。所述第一多个电触点(119B)和所述第二多个电触点(125)具有不同的空间分布。所述分布层(126)配置成将所述第一多个电触点(119B)电连接到所述第二多个电触点(125)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 | ||
【主权项】：
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