[发明专利]应力受损信号校正电路有效

专利信息
申请号: 201780093735.5 申请日: 2017-08-08
公开(公告)号: CN110998478B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 卡林·V·拉扎罗夫;罗伯特·C·齐亚科齐亚 申请(专利权)人: 亚德诺半导体国际无限责任公司
主分类号: G05F3/30 分类号: G05F3/30;G01R33/06;G05F1/10;G05F3/08;G05F3/16
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 申发振
地址: 爱尔兰*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在用于校正电路中的应力受损信号的系统和方法中,校准电路产生基于一个或多个pnp晶体管的基极‑发射极电压的第一校准电压、基于一个或多个npn晶体管的基极‑发射极电压的第二校准电压,以及与绝对温度成比例的电压。基于这些电压生成一组参考值。基于该组参考值和一组温度相关值的函数计算增益校正因子,并且基于该增益校正因子校正应力受损信号。
搜索关键词: 应力 受损 信号 校正 电路
【主权项】:
暂无信息
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