[发明专利]一种基于统计技术的测量过程核查方法

摘要

本发明属于测试计量技术及仪器领域，具体是公开了一种基于统计技术的测量过程核查方法。它不需要实物核查标准，也没有测量核查标准环节，就可以对检定示值误差的过程实施核查，确保检定结果准确可信。它的特征，步骤为：1)假定检定结果总体符合正态分布。2)在控制参数的建立中，以历史检定记录为样本，样本通过正态性检验的：首先通过构造服从t分布的统计量，得到检定结果平均值的控制极限；然后通过构造服从f分布的统计量，得到检定结果实验标准偏差的控制极限。3)在检定过程的监控中，以最近检定数据为样本，样本通过正态性检验且样本的平均值和实验标准偏差均在其控制极限内，则认为当前检定过程为受控状态，否则为失控状态。

主权项

1.一种基于统计技术的测量过程核查方法，其特征是，它的步骤为：1)检定示值误差的结果总体符合正态分布。在控制参数的建立中，以历史检定记录为样本，只有样本的正态性通过检验的，才能建立控制参数；在检定过程的监控中，以最近检定数据为样本，只要样本不能通过正态性检验，就可以认为当前检定过程为失控状态。2)控制参数的修正时机。当测量标准装置进入一个新溯源周期时，就需要对控制参数进行重新计算。3)在控制参数的建立中，要用历史检定记录计算控制极限，这些记录的选取应同时满足下列条件：①.检定记录的时间应当在该测量标准装置的上一个溯源周期内；若样本数量不够，可以再向前延长一个溯源周期；②.被检件已检定合格且其型号相同；③.被检件由同一套测量标准装置检定，且在此期间该测量标准装置的性能指标没变化；④.检定数据是同一个检定点的检定结果；⑤.记录数应当大于等于满足正态性检验条件的最小样本数。4)在检定过程的监控中，要用最近检定记录来判定检定过程是否受控，这些记录的选取应同时满足下列条件：①.检定记录的时间应从该测量标准装置进入新溯源周期后开始；②.被检件已检定合格且其型号相同；③.被检件由同一套测量标准装置检定；④.检定数据是同一个检定点的检定结果；⑤.从当前检定过程的时间开始倒数选取，其记录数等于满足正态性检验条件的最小样本数。5)控制参数的建立与计算。用集合Dn＝{d1 d2 … dn}表示收集到的历史检定记录，n为历史检定记录条数。按(1)式和(2)式分别计算历史检定记录的平均值μ和实验标准偏差S。按(3)式和(4)式计算检定结果平均值的控制上限YUSL和下限YLSL。YUSL＝μ+δ·S  (3)YLSL＝μ‑δ·S  (4)在上(3)式和(4)式中，按(5)式和(6)式计算检定结果实验标准偏差的控制上限SUSL和下限SLSL。SUSL＝λ·S  (5)SLSL＝‑λ·S  (6)在上(5)式和(6)式中，6)实际检定过程的监控。用集合D′m＝{d′1 d′2 … d′m}表示收集到的最近检定数据，其中m为最近检定数据条数。按(7)式和(8)式分别计算最近检定数据的平均值μ′和实验标准偏差S′。在同一检定点上，当YLSL＜μ′＜YUSL和SLSL＜S′＜SUSL都成立时，则表明在当前检定点上，实际检定过程为受控状态，继续判断下一个检定点的受控情况。当所有检定点均处于受控状态时，则表明当前实际检定过程为受控状态；否则为失控状态。