[发明专利]一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法有效

专利信息
申请号: 201810002466.3 申请日: 2018-01-02
公开(公告)号: CN108267300B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 马维超 申请(专利权)人: 歌尔股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 代理人: 王昭智;马佑平
地址: 261031 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法,包括:上压块,所述上压块设置有与光学模组对应的安装部,所述安装部中设置有影像孔,所述安装部用于承载光学模组;固定压块,所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上,所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上;下压块,所述下压块与所述上压块固定连接,所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽,所述凹槽用于放置影像源设备。本发明的技术方案可以避免头戴设备组装后由于光学模组性能不良进行拆机造成的资源浪费。
搜索关键词: 一种 光学 模组 测试 工装 设备 方法
【主权项】:
1.一种光学模组的测试工装,其特征在于,包括:上压块,所述上压块设置有与光学模组对应的安装部,所述安装部中设置有影像孔,所述安装部用于承载光学模组;固定压块,所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上,所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上;下压块,所述下压块与所述上压块固定连接,所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽,所述凹槽用于放置影像源设备。
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