[发明专利]响应时间的测试方法及测试装置在审
| 申请号： | 201810005284.1 | 申请日： | 2018-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN107918217A | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 张一三;李乘揆;王春;陈俊生 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人： | 袁礼君,王卫忠 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种响应时间的测试方法及测试装置，涉及显示技术领域。该测试方法包括显示测试画面，所述测试画面包括测试背景以及在所述测试背景上移动的测试图案；获取所述测试图案在所述测试背景上的拖影长度，以根据所述测试图案的拖影长度评价显示装置的响应时间；其中，所述测试背景以及在该测试背景上的所述测试图案具有不同的灰阶。本公开可快速简便的实现响应时间的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 响应 时间 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种响应时间的测试方法，其特征在于，包括：显示测试画面，所述测试画面包括测试背景以及在所述测试背景上移动的测试图案；获取所述测试图案在所述测试背景上的拖影长度，以根据所述测试图案的拖影长度评价显示装置的响应时间；其中，所述测试背景以及在该测试背景上的所述测试图案具有不同的灰阶。
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