[发明专利]一种取向设备及取向参数的校验方法有效
| 申请号： | 201810007249.3 | 申请日： | 2018-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN108051955B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 高云;郭建;孟维欣;王晓杰;李晓锦;孙禄标;任伟;陈强 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号： | G02F1/1337 | 分类号： | G02F1/1337 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡艳华;李丹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种取向设备及取向参数的校验方法。待取向基板上设置有位置标记和校验标记，取向设备包括用于承载待取向基板的载台，该方法包括：采集位置标记图像和校验标记图像；根据位置标记图像和校验标记图像校验取向参数。该取向设备包括：图像采集装置，用于采集位置标记图像和校验标记图像；校验装置，与所述图像采集装置连接，用于根据位置标记图像和校验标记图像校验取向参数。本发明实施例的取向设备，不再采用人工对取向参数进行校验，而是通过图像采集装置和校验装置，对取向参数进行自动校验，校验方式方便快捷而且提高了取向处理的准确率，大大降低了取向设备对基板进行取向处理的成本，有利于光取向设备的推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 取向 设备 参数 校验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种取向参数的校验方法，其特征在于，待取向基板上设置有位置标记和校验标记，取向设备包括用于承载待取向基板的载台，所述方法包括：采集位置标记图像和校验标记图像；根据位置标记图像和校验标记图像校验取向参数。
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